KI-3020A Полупроводниковое устройство программного слежения

KI-3020A
KI-3020A Полупроводниковое устройство программного слежения

С помощью KI-3020A можно легко вывести кривые на осциллографе, для этого требуется только осциллограф с синхронизацией. Точно экспонируются характеристики всех типов полупроводниковых транзисторов, полевых транзисторов, диодов, стабилитронов, тринисторов, триаков, динисторов, однопереходных транзисторов и т.п. Благодаря исследованию этих кривых можно определить все рабочие характеристики тестируемого прибора, в том числе коэффициент усиления (β), ток отсечки, ток утечки, выходную проводимость и любые другие технические характеристики, подлежащие измерению. Он намного лучше контролирует качество транзисторов, чем обычный тестер. Он предназначен для тестирования полупроводников на производственной линии и в лаборатории, а также для устранения неисправностей.

1. Измерительный прибор для быстрой проверки полупроводниковых устройств
2. Отображает характеристики всех полупроводниковых устройств на осциллографе